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SDRAM存储芯片内存单元自动化测试程序设计-电子世界2014年14期

SDRAM存储芯片内存单元自动化测试程序设计

作者:张东磊 韦浩睿 梁晓芳 字体:      

【摘要】SDRAM的同步动态存储可流水线操作指令,体现实时和省时的特点,但其本身存在的掉电数据丢失的缺点使得其在应用中进行SDRAM存储芯片内存单元读写的测试非常重要,否则可导致装置无法正常工作。本文就SDRAM存储(试读)...

电子世界

2014年第14期