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基于FPGA的智能测试系统硬件设计与实现研究-消费电子2025年15期

基于FPGA的智能测试系统硬件设计与实现研究

作者:洪仁辉 字体:      

【关键词】FPGA硬件设计;测试系统;多通道

引言

当前电子系统复杂度激增,传统测试设备受限于串行处理架构和固定硬件结构,面临多通道实时处理能力不足、设备适应性差等挑战。FPGA凭借硬件并行性、丰富I/O资源及动态(试读)...

消费电子

2025年第15期