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基于改进YOLOv7-tiny的绝缘子缺陷检测网络-现代电子技术2025年16期

基于改进YOLOv7-tiny的绝缘子缺陷检测网络

作者:韩兴宇 陈为真 字体:      

中图分类号:TN919.85-34;TP391.41 文献标识码:A 文章编号:1004-373X(2025)16-0105-08

Insulator defect detection network based on improved YOLOv7-tiny

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现代电子技术

2025年第16期