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关于霍尔效应特性的实验研究-电子世界2014年04期

关于霍尔效应特性的实验研究

作者:高晓虎 王昆林 字体:      

【摘要】随着电子技术的发展,霍尔效应不单是测定半导体材料电学参数的主要手段,利用霍尔效应制成的霍尔器件凭借其结构简单、频率响应宽(高达10GHz)、寿命长、可靠性高等优点,已广泛应用于非电量测量、自动控制和(试读)...

电子世界

2014年第04期